申购日期:07-26周二
广立微于2003年成立,初期就在集成电路设计领域进行研发尝试,随后结合国内外集成电路产业市场需求与研发团队技术优势,将研发方向聚焦于集成电路成品率提升及电性测试相关的软件产品与解决方案,形成了公司初代软件产品。
之后,公司陆续开发出了包括AddressableSolution(可寻址测试芯片方案)、超高密度测试芯片设计与芯片快速测试技术、FastParametricTestingSolution(快速电性参数测试解决方案)在内的一系列核心技术,公司的解决方案目前也在180nm~3nm的工艺节点上实现了工业应用。
其中在WAT测试设备领域,公司2018年研发出了最新一代的晶圆级WAT电性测试机,打破了集成电路成品率提升领域长期被国外产品垄断的局面,实现了高质量的国产化替代。
截至目前,公司已推出了第四代晶圆级电性测试设备,是国内较早进入晶圆厂量产产线的国产WAT测试机供应商,在行业内对其他国内企业已经形成了一定的先发优势。