周一盘后分析,12月20日芯片测试概念报跌,沪电股份领跌,通富微电、利扬芯片、华兴源创、晶方科技等跟跌。
相关芯片测试概念上市公司有:
1、四会富仕:
12月20日消息,四会富仕最新报价54.21元,3日内股价下跌2.23%;今年来涨幅上涨13.85%,市盈率为21.77。
公司48层芯片测试板研发成功。
2、长电科技:
12月20日消息,长电科技最新报价30.92元,3日内股价下跌2.59%;今年来涨幅下跌-4.62%,市盈率为38.17。
公司向客户提供芯片测试、封装设计、封装测试等全套解决方案。
3、和林微纳:
12月20日盘后消息,和林微纳最新报价103.98元,跌0.96%,3日内股价下跌5.22%;今年来涨幅上涨23.18%。
公司生产运营正常,其中半导体芯片测试探针业务市场开拓较好。
4、晶方科技:
12月20日消息,晶方科技最新报价52.32元,3日内股价下跌3.88%;今年来涨幅上涨17.09%,市盈率为43.97。
5、华兴源创:
华兴源创最新报价34.81元,7日内股价下跌0.92%;今年来涨幅下跌-1.84%,市盈率为54.39。
公司针对RF(射频)芯片测试的测试板卡正在研发试做过程中,测试频率可以达到7.5Ghz,可以覆盖5G终端射频芯片的测试,主要测试项包括DC测试、射频性能测试和协议测试等,同时针对5G的测试协议也在同步开发当中。
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